Randomizacja odchylenia pomiarowego przy ocenie zdolności pomiarowej przyrządu

pol Article in Polish DOI:

send Paweł Fotowicz Główny Urząd Miar

Download Article

Streszczenie

Randomizację odchylenia pomiarowego wykorzystuje się przy ocenie zdolności pomiarowej przyrządu. Odchylenie pomiarowe to estymata błędu systematycznego wyznaczana jako różnica pomiędzy wskazaniem przyrządu pomiarowego a wartością wzorcową. Randomizacja polega na przyjęciu odpowiedniego rozkładu prawdopodobieństwa dla tego odchylenia. Miarą zdolności pomiarowej przyrządu jest niepewność rozszerzona obliczana po wykonaniu pomiaru na wzorcu pomiarowym. Niepewność tę odnosi się do wartości granicznej, którą może być największy błąd dopuszczalny. Zdolność pomiarowa jest wskaźnikiem umożliwiającym ocenę jakości metrologicznej przyrządu.

Słowa kluczowe

niepewność pomiaru, zdolność pomiarowa

Bias randomization in evaluation of measurement instrument capability

Abstract

Randomizing of a bias is used in evaluation of measurement instrument capability. Bias is an estimate of systematic error treated as difference between an indication of measuring instrument and a value of standard. Randomization relies on the assumption of suitable probability distribution for the bias. The measure of the capability is an expanded uncertainty calculating after measurement on the standard. The expanded uncertainty is related to limited value. This limited value may be a maximum permissible error.

Keywords

measurement capability, uncertainty

Bibliography

  1. Statistical methods in process management – Capability and performance – Part 7: Capability of measurement processes. ISO/FDIS 22514-7, 2012.
  2. Guide to the expression of uncertainty in measurement. JCGM 100:2008.
  3. Supplement 1 to the Guide to the expression of uncertainty in measurement – Propagation of distributions using a Monte Carlo method. JCGM 101:2008.
  4. Fotowicz P., Obliczanie niepewności rozszerzonej metodą analityczną opartą na splocie rozkładów wielkości wejściowych, „Pomiary Automatyka Robotyka” 1/2005, 5–9.
  5. Fotowicz P., Wykorzystanie rozkładu płaskonormalnego przy obliczaniu niepewności pomiaru, „Pomiary Automatyka Kontrola” 6/2011, 595–598.
  6. Fotowicz P., Metoda randomizacji oddziaływania systematycznego i jej praktyczne zastosowanie, „Pomiary Automatyka Kontrola” 11/2011, 1293–1296.