Software solution used in industrial measurement devices to facilitate meeting the requirements of the EMC directive
Article in English
Abstract
This paper presents an example of a measuring device to be applied in a coal mine, for which special effort was taken at the design stage to fulfill the requirements for electromagnetic compatibility. Software solutions described in the paper are useful during the EMC certification process for the majority of programmable equipment, because slight modifications of the program can compensate imperfections of hardware design and may decide about passing the certification process.
Keywords
embedded software, EMC, industrial measurement systems, noise immunity
Rozwiązania programowe stosowane w przemysłowych urządzeniach pomiarowych ułatwiające spełnienie wymagań dyrektyw EMC
Streszczenie
W artykule przedstawiono przykład urządzenia pomiarowego przeznaczonego do stosowania w kopalniach, którego oprogramowanie zostało zaprojektowane tak, aby ułatwić spełnienie wymagań związanych z kompatybilnością elektromagnetyczną. Rozwiązania opisane w niniejszym artykule są przydatne podczas procesu certyfikacji EMC dla większości programowalnych sterowników i pokazują, że niewielkie modyfikacje programu mogą zrekompensować niedoskonałości konstrukcji sprzętu, co może zadecydować o pozytywnym przejściu przez proces certyfikacji.
Słowa kluczowe
EMC, odporność na zakłócenia, oprogramowanie wbudowane, pomiary przemysłowe
Bibliography
- Murata Manufacturing Co., Ltd., Noise Suppression Techniques. Conditions for Electromagnetic Interference and Future Trends, [www.murata.com/products/emc/knowhow/index.html].
- Ganssle J., Watching the watchdog, “Embedded Systems Programming”, Vol. 16, No. 3, 2003.
- Carlton R., Raclno G.. Suchyta J., Improving The Transient Immunity Performance of Microcontroller-Based Applications, Freescale Semiconductor Application Note AN2764, [http://cache.freescale.com/files/microcontrollers/doc/app_note/AN2764.pdf?fsrch=l&sr=l].
- Brotz J., Software techniques for comprehensive EMC testing of embedded systems. “EE Times Design”. 2008, www.eetimes.com/design/embedded/4007591/Software-techniques-for-comprehensive-EMC-testing-
- STMicroelectronics, Software techniques for improving microcontroller EMC performance, Application note AN1015, [www.datasheetcatalog.org/datasheet/SGSThomsonMicroelectronics/mXyytzw.pdf].
- Ferguson M., Noise Issues and Solutions in MCUBased Systems, Embedded Systems Conference, Silicon Valley, April 2008, [http://am.renesas.com/media/company_info/news_and_events/mcu_promo/ESC-120_Ferguson_PPT.pdf].